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乔娣琳静电测试原理
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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乔娣琳负染电镜原理
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。负染电镜是一种研究生物大分子结构与功能的高分辨率的成像技术。它通过一种称为电子显微镜的技术来实现,可以观察到分子水平的结构,如...
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乔娣琳扫描电镜的景深同哪些因素有关
扫描电镜(ScanningElectronMicroscope,简称SEM)是一种常用的表征材料微观结构及性质的显微镜,其成像原理是通过扫描电场与电子束的相互作用来获取样品表面的扫描图像。在SEM中...
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乔娣琳电镜制样技术有哪些方法和原理图
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。电镜制样技术是一种将样品置...
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乔娣琳透射电子显微镜的工作原理是什么呢
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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乔娣琳透射电镜超薄切片技术中的取材要点
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。透射电镜超薄切片技术是一种广泛应用于材料学和物理学领域的显微镜成像技术。通过该技术,可以将薄片样品在电场中加速,并通过透射电镜...
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乔娣琳静电测试怎么测
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。静电测试是一种常见的测试方法,用于检测物体表面是否存在静电现象。静电测试通常包括电场分布测试和电荷分布测试两种类型。一、电场分...
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乔娣琳扫描电镜样品为什么必须导电才能用电极
扫描电镜是一种高精度的观察和分析微小物体的工具,样品能够导电是使用扫描电镜的必要条件。扫描电镜的工作原理是通过扫描电极在样品表面产生电场,使样品表面的电子在电场的作用下产生运动,然后通过探测器捕捉电子...
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乔娣琳电镜包括哪些东西
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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乔娣琳透射电镜负染法原理
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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